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Thin film analysis by xray scattering

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Birkholz, Mario
Natura:	eBook
Lingua:	English
Pubblicazione:	Wiley 2006
Soggetti:	Materials Characterization
Accesso online:	http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

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