تحميل...

QR رمز

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Haight, Richard; ed (ed. by)
مؤلفون آخرون:	Ross, Frances M, Hannon, James B
التنسيق:	Printed Book
اللغة:	English
منشور في:	Singapore World Scientific publishing 2012
سلاسل:	World scientific series in materials and energy
الموضوعات:	Semiconductors Nanostructures - Electronmicroscopy x-ray diffraction Scanning microscopy

مواد مشابهة

Techniques in microscopy and cell biology
بواسطة: Sharma, V K
منشور في: (1991)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
بواسطة: Klug, Harold P.
منشور في: (1974)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis analytical chemistry by open learning
بواسطة: Lawes, Grahame
منشور في: (2008)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X/RAY MICROANALYSIS
بواسطة: LAWES GRAHAME
منشور في: (2008)

Strain and dislocation gradients from diffraction spatially-resolved local structure and defects
بواسطة: Barabash, Rozaliya; ed
منشور في: (2014)

Effect of disorder and defects in ion-implanted semiconductors: electrical and physiochemical characterization
منشور في: (1997)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials
بواسطة: Klug, Harold P.
منشور في: (1954)

Elements of x-ray diffraction /
بواسطة: Cullity, B. D.
منشور في: (1978)

X-ray diffraction: a practical approach
بواسطة: Suryanarayana, C
منشور في: (1998)

X-ray diffraction: a practical approach
بواسطة: Suryanarayana, C
منشور في: (1998)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: CULLITY.B.D and STOCK S.R
منشور في: (2001)

Basic concepts of X-ray diffraction
بواسطة: ZOLOTOYABKO,Emil
منشور في: (2014)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D; Stock S R
منشور في: (2018)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D; Stock S R
منشور في: (2018)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D; Stock S R
منشور في: (2018)

X-ray diffraction Procedures
بواسطة: Klug, Harold P; Alexander, Leroy E
منشور في: (1970)

Elements of X-ray diffraction
بواسطة: Cullity, B D
منشور في: (1978)

Diffraction X-ray optics /
بواسطة: Erko, A. I.
منشور في: (1996)

X-ray diffraction procedures
بواسطة: Klzig, Harold P.
منشور في: (1954)

Physics of semiconductor nanostructures
بواسطة: Jain, K.P
منشور في: (1997)

Semiconductor nanostructures
بواسطة: Bimberg, Dieter.,ed
منشور في: (2008)

Modern metallographic techniques and their applications
بواسطة: Phillips,Victor A
منشور في: (1971)

X-ray diffraction /
منشور في: (1974)

Multiple diffraction of x-rays in crystals /
بواسطة: Chang, Shih-Lin
منشور في: (1984)

X-ray diffraction
منشور في: (1974)

Elements of X-ray diffraction.
بواسطة: Cullity, B. D.
منشور في: (1956)

Coherent X-Ray Optics
بواسطة: Paganin, David
منشور في: (2007)

X-ray diffraction by disordered lamellar structures: theory and applications to microdivided silicates and carbons
بواسطة: Drits, Victor A
منشور في: (1990)

Basics of X-ray diffraction and its applications /
منشور في: (2007)

X-ray diffraction
بواسطة: Azaroff, Leonid V, et al
منشور في: (1974)

Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
بواسطة: Samori, Paolo; Editor
منشور في: (2006)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
بواسطة: Goldstein, Joseph I
منشور في: (2018)

X-ray diffraction methods
بواسطة: Nziffield, E. W.

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
منشور في: (2010)

Synthesis crystal growth and characterization
بواسطة: Krishanan Lal,Ed
منشور في: (1982)

Scanning microscopy for nanotechnology: Techniques and applications
بواسطة: Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
منشور في: (2007)

Optics of semiconductors and their nanostructures /
منشور في: (2004)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
بواسطة: Guinebretiere, Rene
منشور في: (2007)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
بواسطة: Guinebretiere, Rene
منشور في: (2007)

Diffraction of X-rays by chain molecules,
بواسطة: Vainshtein, B. K.
منشور في: (1966)