Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Haight, Richard; ed (ed. by)
Otros Autores: Ross, Frances M, Hannon, James B
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Singapore World Scientific publishing 2012
Colección:World scientific series in materials and energy
Materias:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Copia Estatus de actividad no disponible
Copia Estatus de actividad no disponible

Ejemplares similares