Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Haight, Richard; ed (ed. by)
Altres autors: Ross, Frances M, Hannon, James B
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: Singapore World Scientific publishing 2012
Col·lecció:World scientific series in materials and energy
Matèries:
Semiconductors
Nanostructures - Electronmicroscopy
x-ray diffraction
Scanning microscopy

UL

Detall dels fons de UL
Signatura: 621.382:681.7 HAI.1 R
621.382:681.7 HAI.2 R
Còpia Comprovació en temps real no disponible
Còpia Comprovació en temps real no disponible

Ítems similars