טוען...
In situ characterization of thin film growth
| מחבר ראשי: | Koster, Gertjan (Ed. by) |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Rijnders, Guus; ed.by |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Cambridge
Woodhead Publishing
2011
|
| סדרה: | Woodhead publishing in materials
|
| נושאים: |
פריטים דומים
-
In situ real time characterization of thin films / edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss.
יצא לאור: (2001) -
Diffraction from rough surfaces and dynamic growth fronts /
מאת: Yang, H.-N
יצא לאור: (1993) -
Thin film growth physics, materials science and applications
מאת: Cao, Zexian ed
יצא לאור: (2011) -
Analytical techniques for thin films /
יצא לאור: (1988) -
High-T Thin Films and Single Crystals
מאת: Gorzkowski,W
יצא לאור: (1990)