In situ characterization of thin film growth

Библиографические подробности
Главный автор: Koster, Gertjan (Ed. by)
Другие авторы: Rijnders, Guus; ed.by
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Серии:Woodhead publishing in materials
Предметы:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth

UL

Подробно о фондах из UL
Шифр: 539.216 KOS
Копировать Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working)

Схожие документы