In situ characterization of thin film growth

Библиографические подробности
Главный автор: Koster, Gertjan (Ed. by)
Другие авторы: Rijnders, Guus; ed.by
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Cambridge Woodhead Publishing 2011
Серии:Woodhead publishing in materials
Предметы:
Thin film growth - Electron diffraction techniques
Crystal growth
Описание
Объем:xi, 282p.
ISBN:9781845699345

Схожие документы