Načítá se...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Hlavní autor: | Wang, Laung-Terng (ed. by) |
|---|---|
| Další autoři: | Stround, Charles E. Touba, Nur A. |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Témata: |
Podobné jednotky
-
VLSI test principles and architectures: design for testability
Autor: Wang, laung-Terng [ed.]
Vydáno: (2006) -
Basic VLSI design
Autor: Pucknell,Douglas A
Vydáno: (2008) -
Design of system on a chip : devices & components /
Vydáno: (2004) -
VLSI handbook
Autor: Giacomo, Joseph Di, Ed
Vydáno: (1989) -
VLSI design
Autor: Kishore, Lal K
Vydáno: (2011)