Načítá se...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Další autoři: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Boston Morgan Kaufmann 2008
Témata:

Podobné jednotky