Отображение 1 - 2 результаты of 2 для поиска 'Wang, Laung-Terng', время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1
    System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
    по Wang, Laung-Terng
    Опубликовано 2008
    Printed Book
  2. 2
    VLSI test principles and architectures: design for testability
    по Wang, laung-Terng [ed.]
    Опубликовано 2006
    Printed Book
Инструменты поиска: RSS-поток — Отправить результаты поиска по Email