Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2 pro vyhledávání 'Wang, Laung-Terng', doba hledání: 0,01 s. Upřesnit hledání
  1. 1
    System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
    Autor Wang, Laung-Terng
    Vydáno 2008
    Printed Book
  2. 2
    VLSI test principles and architectures: design for testability
    Autor Wang, laung-Terng [ed.]
    Vydáno 2006
    Printed Book
Vyhledávací nástroje: RSS — Poslat emailem