Toon 1 - 2 resultaten van 2 Voor zoekopdracht 'Wang, Laung-Terng', zoektijd: 0,01s Verfijn jouw resultaten
  1. 1
    System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
    door Wang, Laung-Terng
    Gepubliceerd in 2008
    Printed Book
  2. 2
    VLSI test principles and architectures: design for testability
    door Wang, laung-Terng [ed.]
    Gepubliceerd in 2006
    Printed Book
Zoekinstrumenten: Abonneren op RSS-datastromen — Zoekopdracht versturen