Saltar al contenido
VuFind
  • Lenguaje
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
Avanzado
  • Optical inspection of microsys...
  • Citar
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • permanent_link
Cargando...

Código QR

Optical inspection of microsystems /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Osten, Wolfgang
Formato: Printed Book
Publicado: Boca Raton, FL : CRC/Taylor & Francis, c2007.
Colección:Optical science and engineering ;
Materias:
Microelectromechanical systems
Quality control
Optical measurements.
Industrial microscopy.
Acceso en línea:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0648/2005046670-d.html
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo

Internet

http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0648/2005046670-d.html

Ejemplares similares

  • Integrated microsystems : electronics, photonics, and biotechnology /
    Publicado: (2012)
  • Microsystems and nanotechnology /
    Publicado: (2012)
  • MEMS and microsystems : design, manufacture, and nanoscale engineering /
    por: Hsu, Tai-Ran
    Publicado: (2008)
  • Optical techniques for industrial inspection
    por: Cielo, Paolo G.
    Publicado: (1988)
  • MEMS and microsystems: design and manufacture
    por: Hsu, Tai-Ran
    Publicado: (2005)

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Lista Alfabética
  • Explorar canales

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda
  • Consulte a un Bibliotecario
  • Preguntas Frecuentes
Cargando...