Skip to content
VuFind
  • Sprog
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
Udvidet
  • Optical inspection of microsys...
  • Citér dette
  • Email dette
  • Udskriv
  • Eksportér post
    • Eksportér til RefWorks
    • Eksportér til EndNoteWeb
    • Eksportér til EndNote
  • permanent_link
Loading...

QR Code

Optical inspection of microsystems /

Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Osten, Wolfgang
Format: Printed Book
Udgivet: Boca Raton, FL : CRC/Taylor & Francis, c2007.
Serier:Optical science and engineering ;
Fag:
Microelectromechanical systems
Quality control
Optical measurements.
Industrial microscopy.
Online adgang:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0648/2005046670-d.html
  • Beholdninger
  • Beskrivelse
  • Lignende værker
  • Medarbejdervisning

Internet

http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0648/2005046670-d.html

Lignende værker

  • Integrated microsystems : electronics, photonics, and biotechnology /
    Udgivet: (2012)
  • Microsystems and nanotechnology /
    Udgivet: (2012)
  • MEMS and microsystems : design, manufacture, and nanoscale engineering /
    af: Hsu, Tai-Ran
    Udgivet: (2008)
  • Optical techniques for industrial inspection
    af: Cielo, Paolo G.
    Udgivet: (1988)
  • MEMS and microsystems: design and manufacture
    af: Hsu, Tai-Ran
    Udgivet: (2005)

Søgemuligheder

  • Søg Historie
  • Udvidet søgning

Find flere

  • Gennemse kataloget
  • Gennemse alfabetisk
  • Explore Channels

Har du brug for hjælp?

  • Søgetips
  • Spørg en bibliotekar
  • FAQ’er
Loading...