Optical inspection of microsystems /

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Osten, Wolfgang
Format: Printed Book
Publicat: Boca Raton, FL : CRC/Taylor & Francis, c2007.
Col·lecció:Optical science and engineering ;
Matèries:
Microelectromechanical systems
Quality control
Optical measurements.
Industrial microscopy.
Accés en línia:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0648/2005046670-d.html

Internet

http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0648/2005046670-d.html

Ítems similars