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Applied logistic regression

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W.
Outros Autores: Lemeshow, Stanley, Sturdivant, Rodney X.
Formato: Printed Book
Publicado em: New Jersey Johnn Wiley & Sons 2013
Edição:3rd.
Assuntos:

Kannur University

Detalhes do Exemplar Kannur University
Área/Cota: 519.536 HOS/A
Cód. Barras: Stack Informação em tempo real indisponível