Načítá se...

Applied logistic regression

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Hosmer, David W.
Další autoři: Lemeshow, Stanley, Sturdivant, Rodney X.
Médium: Printed Book
Vydáno: New Jersey Johnn Wiley & Sons 2013
Vydání:3rd.
Témata:

Kannur University

Informace o exemplářích z: Kannur University
Signatura: 519.536 HOS/A
Jednotka Stack Neznámá aktuální dostupnost