Hosmer, D. W., Lemeshow, S., & Sturdivant, R. X. (2013). Applied logistic regression (3rd.). Johnn Wiley & Sons.
Citação norma ChicagoHosmer, David W., Stanley Lemeshow, and Rodney X. Sturdivant. Applied Logistic Regression. 3rd. New Jersey: Johnn Wiley & Sons, 2013.
Citação norma MLAHosmer, David W., et al. Applied Logistic Regression. 3rd. Johnn Wiley & Sons, 2013.
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