Lataa...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
Päätekijä: | |
---|---|
Aineistotyyppi: | Ph.D Thesis |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
Aiheet: |
UL
Hyllypaikka: |
535.8 PAU |
---|---|
Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |