Lataa...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Ph.D Thesis |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Aiheet: |
UL
| Hyllypaikka: |
535.8 PAU |
|---|---|
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |