Carregant...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Paulraj, M.
Format: Ph.D Thesis
Idioma:English
Publicat: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Matèries:

UL

Detall dels fons de UL
Signatura: 535.8 PAU
Còpia Comprovació en temps real no disponible