Wordt geladen...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Ph.D Thesis |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Onderwerpen: |
| Beschrijving item: | Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P. |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | 256p. |