Φορτώνει......
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ph.D Thesis |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Θέματα: |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P. |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | 256p. |