Wordt geladen...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Paulraj, M.
Formaat: Ph.D Thesis
Taal:English
Gepubliceerd in: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Onderwerpen:
Omschrijving
Beschrijving item:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Fysieke beschrijving:256p.