טוען...
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| מחבר ראשי: | Siegel, Benyamin M. |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Beaman, Donald R. |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
New york
John wiley
1975
|
| נושאים: |
פריטים דומים
-
Quantitative microbeam analysis
מאת: Fitzgerald, A G, Ed., et al
יצא לאור: (1993) -
Electron microscopy and analysis
מאת: Goodhew, Peter J, et al
יצא לאור: (2001) -
Introduction to electron microscopy
מאת: Wischnitzer, Saul
יצא לאור: (1970) -
Principles and practice of electron microscopy
מאת: Watt, Ian M
יצא לאור: (1989) -
Electron microscopy methods and protocols
מאת: Hajibagheri, M A Nasser, Ed
יצא לאור: (1999)