Thin film analysis by xray scattering

other_versions_link
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Birkholz, Mario
Materyal Türü: Ekitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Wiley 2006
Konular:
Materials Characterization
Online Erişim:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

Internet

http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.

Benzer Materyaller