Wordt geladen...

Thin film analysis by xray scattering

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Birkholz, Mario
Formaat: E-boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Wiley 2006
Onderwerpen:
Online toegang:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595