Lataa...

Thin film analysis by xray scattering

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Birkholz, Mario
Aineistotyyppi: E-kirja
Kieli:English
Julkaistu: Wiley 2006
Aiheet:
Linkit:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595