Lanean...

Thin film analysis by xray scattering

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Birkholz, Mario
Formatua: eBook
Hizkuntza:English
Argitaratua: Wiley 2006
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595