Cargando...

Thin film analysis by xray scattering

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Birkholz, Mario
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Wiley 2006
Materias:
Acceso en línea:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595