Načítá se...

Thin film analysis by xray scattering

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Birkholz, Mario
Médium: E-kniha
Jazyk:English
Vydáno: Wiley 2006
Témata:
On-line přístup:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595