Загрузка...

Thin film analysis by xray scattering

Библиографические подробности
Главный автор: Birkholz, Mario
Формат: eКнига
Язык:English
Опубликовано: Wiley 2006
Предметы:
Online-ссылка:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595
Search Result 1
по Birkholz, Mario
Опубликовано 2006
Полный текст
Полный текст
Полный текст
Printed Book