Thin film analysis by xray scattering

other_versions_link
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Birkholz, Mario
Formaat: E-boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Wiley 2006
Onderwerpen:
Materials Characterization
Online toegang:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595
Search Result 1
Thin film analysis by X-ray scattering /
door Birkholz, Mario
Gepubliceerd in 2006
Volledige tekst
Volledige tekst
Volledige tekst
Printed Book
other_versions_search_link

Gelijkaardige items