Thin film analysis by xray scattering

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Birkholz, Mario
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Wiley 2006
Materias:
Materials Characterization
Acceso en línea:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595
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Thin film analysis by X-ray scattering /
por Birkholz, Mario
Publicado 2006
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