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Thin film analysis by xray scattering

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Birkholz, Mario
Format: E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Wiley 2006
Schlagworte:
Online Zugang:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595
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von Birkholz, Mario
Veröffentlicht 2006
Volltext
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Printed Book