Ładuje się......
Thin film analysis by xray scattering
| 1. autor: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| Format: | E-book |
| Język: | English |
| Wydane: |
Wiley
2006
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
Podobne zapisy
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
od: Birkholz, Mario
Wydane: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
Wydane: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
Wydane: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
od: Fischer, Walter E
Wydane: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
od: Shah, MA
Wydane: (2013)