Wordt geladen...
Thin film analysis by xray scattering
| Hoofdauteur: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| Formaat: | E-boek |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Wiley
2006
|
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
Gelijkaardige items
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
door: Birkholz, Mario
Gepubliceerd in: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
Gepubliceerd in: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
Gepubliceerd in: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
door: Fischer, Walter E
Gepubliceerd in: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
door: Shah, MA
Gepubliceerd in: (2013)