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Thin film analysis by xray scattering

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書誌詳細
第一著者:	Birkholz, Mario
フォーマット:	eBook
言語:	English
出版事項:	Wiley 2006
主題:	Materials Characterization
オンライン･アクセス:	http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

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