Lataa...
Thin film analysis by xray scattering
| Päätekijä: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | E-kirja |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Wiley
2006
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
Samankaltaisia teoksia
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
Tekijä: Birkholz, Mario
Julkaistu: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
Julkaistu: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
Julkaistu: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
Tekijä: Fischer, Walter E
Julkaistu: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
Tekijä: Shah, MA
Julkaistu: (2013)