Φορτώνει......
Thin film analysis by xray scattering
| Κύριος συγγραφέας: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Wiley
2006
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
ανά: Birkholz, Mario
Έκδοση: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
Έκδοση: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
Έκδοση: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
ανά: Fischer, Walter E
Έκδοση: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
ανά: Shah, MA
Έκδοση: (2013)