Načítá se...
Thin film analysis by xray scattering
| Hlavní autor: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| Médium: | E-kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Wiley
2006
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
Podobné jednotky
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
Autor: Birkholz, Mario
Vydáno: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
Vydáno: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
Vydáno: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
Autor: Fischer, Walter E
Vydáno: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
Autor: Shah, MA
Vydáno: (2013)