লোডিং...
Thin film analysis by xray scattering
| প্রধান লেখক: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
Wiley
2006
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
অনুযায়ী: Birkholz, Mario
প্রকাশিত: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
প্রকাশিত: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
প্রকাশিত: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
অনুযায়ী: Fischer, Walter E
প্রকাশিত: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
অনুযায়ী: Shah, MA
প্রকাশিত: (2013)