تحميل...
Thin film analysis by xray scattering
| المؤلف الرئيسي: | Birkholz, Mario |
|---|---|
| التنسيق: | كتاب الكتروني |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Wiley
2006
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595 |
مواد مشابهة
-
Thin film analysis by X-ray scattering /
بواسطة: Birkholz, Mario
منشور في: (2006) -
Thermal characterization of polymeric materials
منشور في: (1981) -
Thermal characterization of polymeric materials
منشور في: (1981) -
X-rays, neutrons and muons photons and particles for material characterization
بواسطة: Fischer, Walter E
منشور في: (2012) -
Nanotechnology:the science of small
بواسطة: Shah, MA
منشور في: (2013)