Thin film analysis by xray scattering

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Birkholz, Mario
Formato: eBook
Idioma:English
Publicado: Wiley 2006
Subjects:
Materials Characterization
Acceso en liña:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

Internet

http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

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