Thin film analysis by xray scattering

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书目详细资料
主要作者: Birkholz, Mario
格式: 电子书
语言:English
出版: Wiley 2006
主题:
Materials Characterization
在线阅读:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595
实物特征
ISBN:9783527607594

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