Thin film analysis by xray scattering

other_versions_link
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Birkholz, Mario
Format: eBog
Sprog:English
Udgivet: Wiley 2006
Fag:
Materials Characterization
Online adgang:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595
Beskrivelse
ISBN:9783527607594

Lignende værker