Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Chicago-stil citatBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
MLA-referensBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.