Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Chicago-стиль цитированияBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
MLA-цитированиеBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.