Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Citação norma ChicagoBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Citação norma MLABirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.