APA Citatie

Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.

Chicago Style citaat

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

MLA citatie

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.