Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Čikaški stil citiranjaBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
MLA način citiranjaBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Upozorenje: Ovi citati možda nisu uvijek 100% točni.