एपीए उद्धरण

Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.

शिकागो स्टाइल उद्धरण

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

एमएलए उद्धरण

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

चेतावनी: ये उद्धरण हमेशा 100% सटीक नहीं हो सकते हैं.