Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Chicago Edition CitationBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
ציטוט MLABirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.