Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.
Chicago-tyylinen lähdeviittausBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
MLA-viiteBirkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.