Cita APA

Birkholz, M. (2006). Thin film analysis by xray scattering. Wiley.

Citación estilo Chicago

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

Cita MLA

Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by Xray Scattering. Wiley, 2006.

Precaución: Estas citas no son 100% exactas.